机译:在宽温度范围内,取决于偏置的热载流子可靠性和寿命
机译:延长微处理器的寿命可靠性:减轻负偏置温度不稳定性的影响
机译:具有陷获电荷的单栅极和双栅极UTB-SOI n-MOSFET在宽温度范围内的零温度系数偏置点
机译:偏置和温度相关的热载波特性亚100nm部分耗尽的SOI MOSFET
机译:对采用广泛成就测试(1978)和经过广泛成就测试(1984)进行的学习能力评估过程中的标准得分,差异得分和可靠性分析进行了比较研究。
机译:微波频率范围内猪组织和血液的超宽带温度相关介电光谱
机译:在宽温度范围内,取决于偏置的热载流子可靠性和寿命